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Datos del producto:
Pago y Envío Términos:
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| Detector: | Detector Fast-SDD personalizado AMPTEK | fuente de tensión: | Fuente de alimentación digital de alto voltaje de 50KV/1mA |
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| Tubo de rayos X: | 20KV/1mA | enfocar: | ϕ 1,0 mm |
| Voltaje de entrada: | CA 100 ~ 240 V, 50 Hz | Entorno operativo: temperatura: | 15 ℃ ~ 31 ℃ |
| Resaltar: | Tester de peso de la capa de silicona de alta precisión,Analisador de revestimiento de silicona XRF,Pruebador de revestimiento de revestimiento de película y liberación |
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Descripción general del producto:
El analizador de volumen de recubrimiento de aceite de silicona KJ-S6700 es un equipo de detección de núcleos para el control de procesos y la optimización de costos en la industria de recubrimientos de aceite de silicona. Al basarse en la tecnología de detección de fluorescencia de rayos X de alta precisión, permite una detección rápida, precisa y estable del volumen de recubrimiento de aceite de silicona para diversos sustratos. El equipo tiene una compatibilidad extremadamente fuerte y puede adaptarse ampliamente a los principales sustratos recubiertos, como películas de PET, papel Graflex, papel laminado y papel kraft. Admite pruebas continuas multipunto y detección de lotes de varios grados, equilibrando la eficiencia de la detección y la precisión de los datos, ayudando a las empresas a lograr un control estandarizado de los procesos de recubrimiento, reducir las pérdidas de materia prima, mejorar las tasas de calificación de productos y satisfacer las necesidades de producción a gran escala en múltiples industrias.
| Nombre del parámetro | Especificaciones específicas |
| Detector | Detector Fast-SDD personalizado AMPTEK |
| Computadora de control industrial incorporada | Computadora de control industrial NXP IMX8 de cuatro núcleos A53 |
| Fuente de alimentación de alto voltaje | Fuente de alimentación digital de alto voltaje de 50KV/1mA |
| tubo de rayos x | 20KV/1mA |
| Material de la ventana | ventana de berilio |
| Material objetivo | Plata/Rodio |
| Enfocar | ϕ 1,0 mm |
| centelleador | ø8mm |
| Voltaje de entrada | CA 100~240 V, 50 Hz |
| Dimensiones del embalaje del producto | 800 mm x 535 mm x 450 mm |
| Dimensiones del producto | 467 mm x 345 mm x 336 mm |
| Dimensiones de la cámara de muestras | 306 mm x 248 mm x 124 mm |
| Potencia nominal | <150W |
| Vida útil del tubo de rayos X | 5000H |
| Peso bruto | 50 kg |
| Peso neto | 32KG |
| Ruido | 50dB |
| Entorno operativo: temperatura | 15 ℃ ~ 31 ℃ |
| Entorno operativo: humedad | <70% (sin condensación) |
| Versión del núcleo de Linux | 4.14.98 |
| Versión del software XRF | V1.2.0 |
| Versión RTM | R10101570001-210218 |
| Versión del firmware del sistema | V8.03(B02) |
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Persona de Contacto: Miss. Silivia Zhang
Teléfono: 86-13925519875
Fax: 86-0769-28638013
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